半導(dǎo)體超聲波掃描缺陷分析 光刻技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)?
光刻技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)?目前世界上的半導(dǎo)體基本都是用光刻技術(shù)生產(chǎn)的。光刻技術(shù)生產(chǎn)半導(dǎo)體的優(yōu)點(diǎn)是生產(chǎn)效率高,產(chǎn)量大,可以大規(guī)模生產(chǎn)。缺點(diǎn)是生產(chǎn)設(shè)備昂貴,一條28nm的生產(chǎn)線需要投入幾百億!而且光刻技術(shù)生產(chǎn)芯片要
光刻技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)?
目前世界上的半導(dǎo)體基本都是用光刻技術(shù)生產(chǎn)的。光刻技術(shù)生產(chǎn)半導(dǎo)體的優(yōu)點(diǎn)是生產(chǎn)效率高,產(chǎn)量大,可以大規(guī)模生產(chǎn)。缺點(diǎn)是生產(chǎn)設(shè)備昂貴,一條28nm的生產(chǎn)線需要投入幾百億!而且光刻技術(shù)生產(chǎn)芯片要消耗大量的能源!生產(chǎn)線越先進(jìn),能耗越大!
半導(dǎo)體前道檢測設(shè)備的重要性?
量產(chǎn)前檢測對(duì)象為制程中的晶圓片,是檢測產(chǎn)品每一步制程后的制程參數(shù)是否符合設(shè)計(jì)要求,檢查晶圓片表面是否存在影響良率的缺陷,以確保制程線良率控制在規(guī)定水平以上的物理和功能測試。
預(yù)痕跡檢測包括膜厚測量設(shè)備、OCD臨界尺寸測量、CD-S
ptc半導(dǎo)體鍋爐優(yōu)缺點(diǎn)?
優(yōu)勢:
1.鋁板更加致密,加熱速度快,熱效率高;
2、健康環(huán)保無需粘合劑粘合;
3、不氧化,使用壽命長;
4、水電分離,無水干燒不會(huì)損壞,更安全。
5、體積小不占空間,拆裝方便。
6.節(jié)能省電。
7、可以同時(shí)滿足取暖和熱水的需求。
缺點(diǎn):
1.故障率高;
2、發(fā)熱盤容易堵塞;
3、價(jià)格較高;
4.熱衰減相對(duì)較快。
sic二極管的優(yōu)缺點(diǎn)?
碳化硅二極管的優(yōu)勢
1.寬帶隙提高了工作溫度和可靠性。
寬帶隙材料可以提高器件的工作溫度。SiC的帶隙高達(dá)3.0eV,對(duì)應(yīng)的本征溫度高達(dá)800℃。即使是帶隙最窄的3C-SiC,其帶隙也在2.3eV左右,碳化硅作為成功器件使用時(shí),其最高工作溫度可能超過600℃,而硅的帶隙為1.12eV,理論最高工作溫度為200℃。然而,硅功率器件的結(jié)溫高于150℃~175℃后,其可靠性和性能指標(biāo)明顯降低。
2.高擊穿場強(qiáng)提高了耐壓并減小了尺寸。
高電子擊穿場強(qiáng)導(dǎo)致半導(dǎo)體功率器件的擊穿電壓增加。同時(shí),由于電子擊穿場強(qiáng)的增加,在增加雜質(zhì)摻雜濃度的情況下,可以減小碳化硅功率器件漂移區(qū)的寬帶,從而減小功率器件的尺寸。
缺點(diǎn)高導(dǎo)熱率提高了功率密度,增加了功耗。