顯卡萬(wàn)用表怎么測(cè)量？1.10pF以下小電容的檢測(cè)由于10pF以下的固定電容容量太小，只能用萬(wàn)用表定性檢查是否漏電、內(nèi)部短路或擊穿。測(cè)量時(shí)，可以選擇使用萬(wàn)用表R×10k，用兩個(gè)探針隨意連接電容的兩個(gè)引腳

顯卡萬(wàn)用表怎么測(cè)量？

1.10pF以下小電容的檢測(cè)由于10pF以下的固定電容容量太小，只能用萬(wàn)用表定性檢查是否漏電、內(nèi)部短路或擊穿。測(cè)量時(shí)，可以選擇使用萬(wàn)用表R×10k，用兩個(gè)探針隨意連接電容的兩個(gè)引腳，阻值應(yīng)該為無(wú)窮大。如果測(cè)得的電阻(指針向右擺動(dòng))為零，則表明電容器因漏電或內(nèi)部擊穿而損壞。

2.檢測(cè)10pf ~ 0.01μ f的固定電容，檢測(cè)10pf ~ 0.01μ f的固定電容是否有充電現(xiàn)象，然后判斷其質(zhì)量。萬(wàn)用表可以選擇R×1k檔，兩個(gè)晶體管的β值都在100以上，滲透電流小?？蛇x用3DG6等型號(hào)的硅三極管組成復(fù)合管。萬(wàn)用表的紅色和黑色探針?lè)謩e與復(fù)合管的發(fā)射器E和收集器C相連。由于復(fù)合三極管的放大作用，被測(cè)電容的充放電過(guò)程被放大，使萬(wàn)用表的指針擺動(dòng)加大，便于觀察。需要注意的是，在測(cè)試操作中，尤其是測(cè)量小容量的電容時(shí)，需要反復(fù)交換被測(cè)電容引腳的A、B觸點(diǎn)，才能明顯看到萬(wàn)用表指針的擺動(dòng)。

3.檢測(cè)0.01 μ f以上的固定電容檢測(cè)0.01 μ f以上的固定電容用萬(wàn)用表R×10k檔直接測(cè)試電容是否有充電過(guò)程和內(nèi)部短路或漏電，根據(jù)指針向右擺動(dòng)的幅度估算電容容量。

萬(wàn)用表怎么修顯卡？

1清潔:用橡膠清潔金手指。清洗整個(gè)顯卡。這是必要的一步。

2目視檢查:仔細(xì)檢查顯卡正反面有無(wú)虛焊，元器件有無(wú)損壞和分離，信號(hào)線有無(wú)斷裂或扭曲。

3檢測(cè):用萬(wàn)用表檢測(cè)顯卡的電源場(chǎng)效應(yīng)管和場(chǎng)效應(yīng)管的控制電極元件。顯卡控制芯片的電源組件。

4.上電電壓測(cè)量:測(cè)量電源場(chǎng)效應(yīng)管、控制芯片、BIOS芯片、顯存、顯卡主芯片的供電點(diǎn)電壓是否正常。

5時(shí)鐘:答:主板AGP槽的時(shí)鐘信號(hào)是否已經(jīng)發(fā)送到顯卡。

b:顯卡上的金震是否正常，金震連接的貼片電容電阻是否正常。

6復(fù)位:答:主板AGP槽的復(fù)位信號(hào)是否已經(jīng)發(fā)送到顯卡。

b:在顯卡上刷BIOS芯片。

7行場(chǎng)信號(hào):顯卡上的行場(chǎng)信號(hào)是否正常輸出。也就是VGA接口的13號(hào)和14號(hào)針，檢查對(duì)地電阻是否相同。

管腳13和14的輸出電壓是否相同。

8顯存:如果顯存損壞，可以黑屏。判斷內(nèi)存是好是壞，可以做一個(gè)每個(gè)針腳對(duì)地的電阻值，可以用手觸摸內(nèi)存是否發(fā)熱。

等一下。

9主芯片:前八項(xiàng)都正常，只有主芯片壞了。維護(hù)基本到此結(jié)束。主要是它不 沒(méi)有多大意義。