掃描電鏡操作步驟 原子力顯微鏡（AFM）的原理？
原子力顯微鏡（AFM）的原理？AFM/AFM的基本原理是將對弱力非常敏感的微懸臂一端固定，另一端有一個微小的尖端。微懸臂的尖端輕輕接觸樣品表面。因為在微懸臂的尖端和樣品表面之間有一個非常微弱的排斥力，
原子力顯微鏡（AFM）的原理？
AFM/AFM的基本原理是將對弱力非常敏感的微懸臂一端固定，另一端有一個微小的尖端。微懸臂的尖端輕輕接觸樣品表面。因為在微懸臂的尖端和樣品表面之間有一個非常微弱的排斥力，在掃描過程中，可以將力控制為恒定的，微懸臂梁將在垂直于樣品表面的方向上波動，該方向與尖端和樣品表面之間的力的等位面相對應(yīng)。采用光學(xué)檢測法或隧道電流檢測法，測量每個掃描點對應(yīng)的微懸臂梁的位置變化，從而獲得樣品表面形貌信息。